為何使用光學(xué)顯微鏡研究固體性質(zhì)？

        顯微觀察是通過放大樣品的圖像，達到揭示肉眼不可見信息的目的。當光學(xué)顯微鏡加入偏光濾光片后，它就成為一種分析工具，可用于測定晶體的光學(xué)性質(zhì)和進行微量化學(xué)實驗。不同的固體結(jié)構(gòu)具有不同的光學(xué)性質(zhì)，如折射率、顏色、消光角、光學(xué)色散等可以通過光學(xué)光學(xué)結(jié)晶的方法快速測定。光學(xué)性質(zhì)由晶體本身的晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)決定。因此，光學(xué)特性可以提供很多有價值的信息來支持通過其他方法獲得的數(shù)據(jù)。此外，還可以通過偏光顯微鏡快速獲得粒徑、顆粒性質(zhì)、力學(xué)性能、孿晶、包合物、晶體生長和燒蝕、介晶等信息。使用熱臺顯微鏡加熱或冷卻少量樣品可以觀察熱誘導(dǎo)現(xiàn)象，如熔點、晶型轉(zhuǎn)變、溶劑化和升華。除光學(xué)顯微鏡外，還有許多其他顯微鏡用于探索和分析樣品的材料和化學(xué)性質(zhì)，如配備X射線的電子顯微鏡、原子力顯微鏡（AFM）紅外-拉曼顯微鏡、近紅外顯微鏡、和聲學(xué)顯微鏡。